间歇寿命试验测试（IOL）

产品介绍

产品介绍 Product introduction

1. 适用于各种封装的IGBT、Si/SiC/GaN MOSFET、BTJ进行K系数测试、稳态热阻测试及功率循环试验。
2. 符合MIL-STD-750、GJB128、IEC、AEC-Q101等试验标准要求。

技术特点 Technical characteristics

1. 在试验的过程中实时测量被试器件的结温，并显示最大结温、最小结温及结温差。
2. 试验的过程定时测量被试器件的结壳热阻，有利于观察试验过程中热阻值的变化。
3. 设备带有烟雾探测器，系统探测到烟雾后自动停止。
4. 所有工位并联试验，试验电流保持一致;
5. 每个通道完全独立，可以设置不同的试验电流和开通关断时间;
6. 设备上可配置K系数测试装置。